项目简介：
轻便型β厚仪根据氪射线穿过薄膜材料时的减弱规律，利用数字和模拟电路进行运算，显示薄膜厚度。这种测厚仪可广泛应用于薄膜、纸张、橡胶、织物等材料的厚度测量，是非接触式测量仪表。与光电、电容、经外等测厚仪相比，有许多优点：体积小，耗电省，可交直流供电，便于携带使用，而且适于在各种不良环境下工作，对各种色彩、花纹及复合材料均可有效使用。
该仪器备有台式、叉式和反射式三种探头供用户选用，既可用于质管部门实验室测试，又可用于各种生产现场在线连续监测。主要技术指标：
测厚范围：
量程一：5 g/m2-200g/m2（密度为1g/m3的薄膜相当于5μm-200μm）；
量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度为1g/m3的薄膜相当于30μm-1mm）；
测厚精度：厚度≤20 g/m2时为±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2时为±5％。

联系人:程正昌
电话:0571-86843054
E_mail:czc@zist.edu.cn

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应用放射性同位素氪85测定微磨损量

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